XRD衍射仪冷热台是一款用于X-射线衍射仪的变温测试附件，可在-190~600℃/RT~1800℃的温度范围内进行控温，实现样品在气密/真空环境下的原位变温测试，研究样品在不同条件下的晶体结构、热稳定性和相变温度等性质。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，作为一款专为X射线衍射分析开发的原位装置，能够精确调控温度、力学等多物理场耦合条件实时监测在复杂环境下的结构演变。

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