显微光学冷热台支持与各类显微镜（Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等）、光谱仪（红外光谱仪、拉曼光谱仪、荧光光谱仪等）等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。液氮冷热台可在-190℃~600℃的温度范围内进行控温，实现样品在开放式/气密/真空环境下，反/透射的原位变温光学观察及相关测试。

高精度探针冷热台用于变温下的电学试验，可在-190~600℃的温度范围内进行控温，实现样品在开放式/气密/真空环境下，反/透射的原位变温电学测试。支持与显微镜、光谱仪、半导体测试仪、电学源表等仪器设备联用。产品用途：该产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现样品台-190~600℃范围内精准控制，可与电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。

TEC冷热台（-50~70℃）/（-35~130℃）利用帕尔贴片的热电效应，配合Super恒温循环泵使用，无需液氮，即可冷却至-50℃。 支持与各类显微镜（Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等）、光谱仪（红外光谱仪、拉曼光谱仪、荧光光谱仪等）等光学仪器设备联用，可在-50~70℃的温度范围内进行控温，实现样品在开放式/气密/真空环境下的原位变温光学观察及相关测试。

产品简介： 定制高压冷热台支持与各类显微镜（Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等）、X射线衍射、光谱仪（红外光谱仪、拉曼光谱仪、荧光光谱仪等）等光学仪器设备联用，进行变温（-190~600℃）下的毛细管内样品的原位光学观察及相关测试。

XRD衍射仪冷热台是一款用于X-射线衍射仪的变温测试附件，可在-190~600℃/RT~1800℃的温度范围内进行控温，实现样品在气密/真空环境下的原位变温测试，研究样品在不同条件下的晶体结构、热稳定性和相变温度等性质。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，作为一款专为X射线衍射分析开发的原位装置，能够精确调控温度、力学等多物理场耦合条件实时监测在复杂环境下的结构演变。

外置液氮探针台是一款针对材料研究过程中变温电学测试而设计的产品，可表征材料升温和降温阶段，其电学性能随温度变化的特征。通过调节外部探针臂，移动内部探针位置，进行高精度的XYZ方向位移。采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-190~600℃范围内精准控制，外置调节探针冷热台可与电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。