地质冷热台搭配舜宇CX40P光学显微镜产品案例

地质冷热台支持与各类显微镜（Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等）、光谱仪（红外光谱仪、拉曼光谱仪、荧光光谱仪等）等光学仪器设备联用，进行变温光学观察及测试。可实现不开盖情况下对样品观测区域进行调节。

地质冷热台可在-190℃~600℃的温度范围内进行控温，实现样品在开放式/气密/真空环境下，反/透射的原位变温光学观察及相关测试。

产品特点：1）控温范围：-190℃~600℃

2）温度稳定性：±0.1℃

3）升降温速率：0.1~50℃/min

4）支持反射 / 透射光路

5）上位机软件控制

6）可按需定制

地质冷热台系统实物图

技术参数表