❑ 测试分选机功能: ⚫ 该设备可对芯片进行常温或高温环境下的各项测试，是一种高度自 动化，可参数化设置的芯片测试设备，可满足多种不同封装形式和 尺寸大小的芯片测试需求 ❑ 特色： ⚫ 可进行常温或高温测试 ⚫ 主要是对逻辑IC进行试﹙或其它测试时间较短的产品﹚ ⚫ 测试区可做8 DUT同时测试﹙1,1x2,2x4﹚ ⚫ 4/8吸嘴 ⚫ 有三个手动出料区、三个自动出料区，工程分类可以分九类