❑ 测试分选机功能:
⚫ 该设备可对芯片进行常温或高温环境下的各项测试，是一种高度自
动化，可参数化设置的芯片测试设备，可满足多种不同封装形式和
尺寸大小的芯片测试需求
❑ 特色：
⚫ 可进行常温或高温测试
⚫ 主要是对逻辑IC进行试﹙或其它测试时间较短的产品﹚
⚫ 测试区可做8 DUT同时测试﹙1,1x2,2x4﹚
⚫ 4/8吸嘴
⚫ 有三个手动出料区、三个自动出料区，工程分类可以分九类

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